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CTT3280F测试机

CTT3280F测(ce)试系(xi)统(tong)是以量产(chan)功(gong)(gong)率(lv)半导体分(fen)立器(qi)件(jian)为目标(biao)的高性能集成电(dian)路测(ce)试机,可(ke)适(shi)应(ying)于功(gong)(gong)率(lv)器(qi)件(jian)的芯片(pian)测(ce)试和(he)成品测(ce)试,主要(yao)测(ce)试品种包括MOS、IGBT、二极(ji)管、三极(ji)管等三端器件。通过与主机向连接的测试头连到针卡,实现8/16 site的并测(ce)硬件(jian)结构,主要用于多site芯片(pian)并测(ce)。

 

系统的主要特点如下:

1. 整机测试规格为1000V/10A,最大支持16 SITE全参数并行测试;

2. 常规配置1个DUT,可并测8个管芯,最大可配置2个DUT,最大可并测16个管芯;

3. GPIB接口,可与UF200等主流探针台进行联机测试;

4. 测试机电源由软件控制,具有自我保护功能;

5. 软件界面以填表方式提供用户测试参数设置界面,并提供单项参数调试功能;

6. DUT盒标配CHK板进行自检校(xiao)准校(xiao)验;

7. 支持ACCESS 、EXCEL 、CSV、STDF四种数据保存格式;

8. 具有防呆功能,对不具备测试条件的信息能自动报警并停止测试;

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